晶圓表面用納米級別二氧化硅微粒子標液

供應商：上海瑞貝貿易有限公司

產品名稱：

SiO2微粒子標準溶液

納米級別二氧化硅

SiO2標準粒子

晶圓表面用二氧化硅

    NanoSilica™ 微粒子標準溶液是由MSP Corporation制作的高度均勻尺寸SiO2微粒子濃縮水溶液，微粒子尺寸從18nm到200nm都選擇，是市面上理想、質量較高的校正標準，適用于新一代的晶圓表面污染/缺陷檢查系統及光罩檢查系統。

     *進的半導體檢查技術已經發展到小于30nm，以往使用Polystyrene latex (PSL)球形化粒子即做晶圓表面污染/缺陷檢查系統及光罩檢查系統的校正，但新一代的檢查系統使用到Deep ultraviolet (DUV) or Extreme ultraviolet (EUV)才能檢查小于20nm的污染或缺陷，當UV光重復打在PSL球形化粒子上，將影響到PSL球形化粒子的質量; 由于SiO2微粒子在DUV及EUV的照射下擁有穩的質量，因此SiO2微粒子是較好的替代產品。

NanoSilica™ 微粒子標準溶液是使用有 的SiO2合成技術，以做到如PSL球形化粒子一樣的尺寸分布，從目前小的微粒子尺寸來看，NanoSilica™ 微粒子標準溶液是尺寸均勻，適合做尺寸大小峰值的量測的工具。

NIST-traceable NanoSilica™ 微粒子標準溶液是MSP Corporation透過National Institute of Standards and Technology (NIST)追溯到標準單位的產品，加上ISO 9000與SEMI的認證，讓良率提升及表面檢查和缺陷評估有所依據。

NanoSilica™ 微粒子標準溶液使用15-mL滴，讓使用者操作更方便。每一瓶溶液的卷標皆標示產品編號、生產編號、微粒子尺寸峰值、尺寸分布半高寬及有效期限，而且提供NIST-traceable證明書與Material Safety Data Sheet (MSDS)說明書。

產品優勢
•尺寸大小分布均勻
•NIST traceability 的尺寸大小
•DUV及EUV的照射下擁有穩的質量
•高濃縮度微粒子懸浮溶液
 
產品效益
•易于微粒子撒粒系統、晶圓表面污染/缺陷檢查系統或各類分析儀器偵測與量測尺寸峰值
•避免平均尺寸與尺寸峰值的差異性
•適合氣膠產生設備使用
•提供耐久校正標準給先*進的檢測設備使用
•省錢而且耗用量少